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English| 發(fā)布日期：2023-06-28 瀏覽：1422次 |
實(shí)驗(yàn)實(shí)施
在實(shí)驗(yàn)中，利用NIRQuest近紅外光譜儀對5種鍍膜玻璃樣品進(jìn)行了100μm狹縫和1200-2100nm波段的光譜分析。測試系統(tǒng)由大功率鹵鎢燈、400μm反射探頭和反射/透射光學(xué)平臺(固定式)組成。以鏡面反射率標(biāo)準(zhǔn)(85-95%，800-2500nm)作為參考。適用于Windows、Mac OS和Linux的光譜套件應(yīng)用程序和Java光譜平臺。
玻璃樣品的未涂覆表面被降低到樣品架中，以確保由探針測量的涂覆表面的反射率。借助光學(xué)平臺，探頭測量90°處的鏡面反射，當(dāng)入射角等于反射角時(shí)，鏡面反射隨著表面光滑度的提高而增加。測量中不需要暗室或黑箱，全部在日光燈下進(jìn)行。高功率鎢鹵素?zé)?20瓦)提供連續(xù)光譜(360-2000納米)。模擬實(shí)際生產(chǎn)條件，反射探頭與每個(gè)樣品表面的距離保持在7 cm左右。
公司的近紅外光譜儀采用了高性能的InGaAs陣列探測器、緊湊型燈具設(shè)計(jì)、熱電制冷配置和低噪音電子元件。NIRQuest256-2.1(即本實(shí)驗(yàn)中使用的256像素光譜儀RRB)適用于長波段探測(最高響應(yīng)在1900nm左右)。采用高采集模式可以有效地提高系統(tǒng)的靈敏度，適用于低光度、低濃度的測量。此外，光譜儀的集成時(shí)間極短，最小為1MS，更適合大批量生產(chǎn)環(huán)境。
NIRQuest近紅外光譜儀還具有外部硬件觸發(fā)功能，允許用戶在外部事件觸發(fā)時(shí)采集數(shù)據(jù)，或者在數(shù)據(jù)采集后觸發(fā)事件。該功能對于太陽模擬器自動(dòng)過程或同步閃光過程中的數(shù)據(jù)采集尤為重要。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果
測試中未進(jìn)行研究任何一個(gè)平均和平滑圖像處理，數(shù)據(jù)仍表現(xiàn)出一種很好的穩(wěn)定性，因此只采集需要一套系統(tǒng)光譜。（見圖2）樣品的反射光譜分析表明在5片樣品中反射率都隨波長有同等幅度的增加。近紅外光譜儀反射率峰值在2000 nm左右。并且可以反光最弱與最強(qiáng)的樣品信息之間，反射率的差別在不同測試工作波長變化范圍的兩端發(fā)展相對來說較小，而在1700 nm附近存在差異具有顯著。鍍膜樣品的反射信號強(qiáng)度在較短波段大約為25％，而在時(shí)間較長波段可達(dá)到80％，這些問題數(shù)值方法均為企業(yè)相對于鏡面反射行為標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)測得的相對反射率（鏡面反射相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)在近紅外波段的反射率圖譜接近平坦直線）。
