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型號 :PL980
關鍵詞 :納米材料分析；重現性好；測量速度快
400-820-7939
021-50687686
980 近紅外二區熒光測量系統是進行納米材料的熒光光譜分析研究而設計和開發的一套光譜系統。該系統重現性好，測量速度快，具有良好的采集效率和可靠性,可廣泛應用于通訊、化工生物醫療、材料分析等領域。
◆ - 熒光光譜范圍：1000-1700 nm；
◆ - 高穩定性；
◆ - 高靈敏度，相對于傳統 90°熒光測量方式檢測靈敏度提高 100 倍。
