|
余弦校正器是一種用于光譜輻射（200-2500nm）取樣的光學(xué)元件，用于收集180°立體角內(nèi)的輻射（光線），從而消除了其
一種可在線測試的拉曼增強支架，由底板、探頭轉(zhuǎn)接板、凹面反射鏡組成。
SA-Stage-RT透反射測量支架是一個新型的，能滿足透射和反射測量的采樣支架。適用于分析如硅、金屬、玻璃和塑料等一類
SH-RAM-D20是一款緊湊型的可微調(diào)固體拉曼探頭測量支架，可調(diào)行程：Z軸方向240mm，精度0.1mm；可適配如海公
